WPI公司推出全新EVOM Chip跨上皮电阻测量系统

WPI公司推出全新EVOM Chip跨上皮电阻测量系统

美国WPI公司最新推出专为器官上的芯片OOC平台设计的实时、无创、非接触式的革命性的多通道TEER测量系统，EVOM Chip。

EVOM Chip是为支持最先进的血脑屏障 (BBB) OOC 模型而开发的，它利用嵌入式电极实现了芯片上的器官的多通道TEER测量。这项创新使研究人员和药物开发人员能够在对芯片成像的同时持续监测血脑屏障的完整性，无需手持测量，数据具有更高的准确性和可重复性。

随着芯片上的器官OOC市场的迅速发展，继续面临着非破坏性、非接触式和非污染的传感TEER测量的标准化和自动化方面的挑战，这两点对于在制药研究中成为主流应用至关重要。有了EVOM Chip，研究人员就可以在不影响细胞健康或中断正常生长的情况下，监测其OOC平台从细胞种植到屏障形成的整个过程，以及药物治疗之前、期间和之后的情况，从而获得准确、可重复的TEER数值。

将TEER测量直接集成到芯片中可提高数据保真度、减少变异性并简化实验工作流程。这是建立更具预测性、标准化和可扩展的体外模型的关键。通过将血管化OOC技术与TEER 测量专业技术相结合，我们为研究人员解决中枢神经系统、炎症和药物发现领域的复杂问题提供了强大的解决方案。

EVOM Chip系统将使OOC平台的TEER测量标准化，从而能够可靠地比较不同实验和实验室的结果。为 EVOM Chip开发的技术和设计原则今后将扩展到其它组织屏障平台，进一步为研究人员提供对药物开发和疾病建模至关重要的一致且可重复的数据。